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设备：霍尔效应测试系统HL5500PC
厂商：nanometrics
用途：利用霍尔效应可以测量半导体材料的导电特性，从而获得载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数。
技术指标：
l 可测试室温和77K下材料的载流子密度、薄层电导率、载流子迁移率等参数
l 可测试高达100G欧姆的材料
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