设备：半导体分立器件动态参数测试系统ITC57300

厂商：ITC

用途：用于测试 Si/SiC/GaN基Diode,IGBT,MOSFET动态交流参数

测试标准：GJB 128B-20XX；IEC 60747-8-2010；MIL_STD_750F

技术指标：
1200V/100A，短路电流2500A

测试功能单元：
C57210-R 开关特性测试单元（阻性负载）
ITC57220 反向恢复特性测试单元
ITC57230 栅电荷特性测试单元（MOS）
ITC57240 开关特性测试单元（感性负载）
ITC57250 短路特性测试单元

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