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0769-88030227
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设备：外延片少子寿命测试仪WT-2000 Wafer Test System
厂商：匈牙利 SEMILAB
用途：1.厚外延少子寿命测试2.SiC电阻率测试
技术指标：少子寿命测试要求外延厚度>30um；规则样品宽度>10mm 可以点测或连续面测
地址：广东省东莞市松山湖国家高新区总部一号12栋5楼
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