设备：AFM粗糙度测试仪Dimension ICON

厂商：德国 Bruker

用途：通过探测微细针尖和样品原子团之间相互作用力的变化来检测样品表面的高低起伏，具有原子级分辨率的表面形貌和表面特性分析。检测固体材料粗糙度和局部形貌

技术指标：

l  最大扫描范围：10umX10um，最小值：10nmX10nm

l  样品台尺寸：φ35mm

l  表面粗糙度：最大值为1μm

l  测试模块：形貌测试、导电性能测试、静电力测试、表面电势测试、磁学测试、纳米力学测试

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